Os empresários do LIDE – Grupo de Líderes Empresariais deram média de 3,2 para a eficiência gerencial do Governo Federal, numa nota de 1 a 5. A média caiu 25% em relação ao ano passado, quando a mesma pergunta foi feita em 24 de novembro e o índice alcançado foi de 4,1. A pesquisa foi realizada com 200 empresas durante almoço-debate no Hotel Grand Hyatt, em São Paulo, com o Ministro do Desenvolvimento, Indústria e Comércio Exterior, Luiz Fernando Furlan, e os empresários do LIDE.
Outro item avaliado foi o fator que impede o crescimento da empresa. Para 50% dos empresários participantes, a maior causa apontada foi a carga tributária. O LIDE recentemente publicou nos principais jornais do país manifestação pública sobre o aumento da alíquota do Cofins. Inquirido sobre o assunto, o próprio ministro Furlan afirmou que “realmente a carga tributária nacional chegou no seu limite, já está extrapolando”. Segundo Furlan, o panorama econômico atual do país é muito melhor que no ano passado e espera-se assim que não haja novos aumentos da carga tributária.
A sondagem do LIDE detectou ainda que 38% dos empresários acreditam que a situação dos negócios de sua empresa está melhor em 2004 comparado a 2003, 5% acham que está muito melhor, 49% acham que está igual e 7% acreditam que piorou. Quanto à empregabilidade, 30% pretendem empregar mais esse ano, 59% devem manter o quadro de funcionários e 10% podem demitir. Nestes dois ítens, a avaliação dos empresários não foi pessimista.
Compuseram a mesa de debate Emilson Alonso, presidente do HSBC, Carlos Henrique Moreira, presidente da Claro, Hélio Novaes, vice-presidente da Sulamérica, Mário Fleck, presidente da Accenture, Hélio Magalhães, presidente da American Express, Fernando de Souza Meirelles, diretor-geral da FGV-EAESP, Carlos Ribeiro, presidente da Hewlett Packard, Marcel Fleishmann, presidente do Mc Donalds, Paulo Zottolo, presidente da Nivea e Marcos Magalhães, presidente da Philips. O mediador-coordenador da sessão foi o jornalista João Doria Jr, presidente da Doria Associados.